XINFORMAÇÕES SOBRE DIREITOS AUTORAIS
As obras disponibilizadas nesta Biblioteca Digital foram publicadas sob expressa autorização dos respectivos autores, em conformidade com a Lei 9610/98.
A consulta aos textos, permitida por seus respectivos autores, é livre, bem como a impressão de trechos ou de um exemplar completo exclusivamente para uso próprio. Não são permitidas a impressão e a reprodução de obras completas com qualquer outra finalidade que não o uso próprio de quem imprime.
A reprodução de pequenos trechos, na forma de citações em trabalhos de terceiros que não o próprio autor do texto consultado,é permitida, na medida justificada para a compreeensão da citação e mediante a informação, junto à citação, do nome do autor do texto original, bem como da fonte da pesquisa.
A violação de direitos autorais é passível de sanções civis e penais.
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Coleção Digital
Número: 29615
Nº da Certificação: 1313011/CA Data da Certificação: 30/11/2016
Título: DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION
Autor(es): CRISTOL DE PAIVA GOUVEA
Orientador(es): MARCO CREMONA Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN PHYSICS
Título Outorgado: DOCTOR IN SCIENCES-PHYSICAL
Área: CONDENSED MATTER PHYSICS
Banca: MARCO CREMONA - PUC-RIO , MARCELO EDUARDO HUGUENIN MAIA DA COSTA - PUC-RIO , MARCELO MARTINS SANT ANNA - UFRJ , DANIEL LORSCHEITTER BAPTISTA - UFRGS , DOUGLAS JOSE COUTINHO - UTFPR
Vocabulário: ELECTRON MICROSCOPY, MOBILITY
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 11/11/2016
Aceitação: 11/11/2016
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de chamada: 530 G719m
Patrocínio: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
CAPES - COORDENAÇÃO DE APERFEIÇOAMENTO DO PESSOAL DE ENSINO SUPERIOR
PROSUP - PROGRAMA DE SUPORTE À PÓS-GRADUAÇÃO DE INSTS. DE ENSINO
PROEX - PROGRAMA DE EXCELENCIA ACADEMICA
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Nº da Certificação: 1313011/CA Data da Certificação: 30/11/2016
Título: DUAL BEAM MICROSCOPY AS A MODIFICATION AND CHARACTERIZATION TOOL OF ORGANIC SEMICONDUCTOR THIN FILMS AND FOR DEVICE FABRICATION
Autor(es): CRISTOL DE PAIVA GOUVEA
Orientador(es): MARCO CREMONA Instituição: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
Programa: GRADUATE PROGRAM IN PHYSICS
Título Outorgado: DOCTOR IN SCIENCES-PHYSICAL
Área: CONDENSED MATTER PHYSICS
Banca: MARCO CREMONA - PUC-RIO , MARCELO EDUARDO HUGUENIN MAIA DA COSTA - PUC-RIO , MARCELO MARTINS SANT ANNA - UFRJ , DANIEL LORSCHEITTER BAPTISTA - UFRGS , DOUGLAS JOSE COUTINHO - UTFPR
Vocabulário: ELECTRON MICROSCOPY, MOBILITY
E-Publisher: MAXWELL
Apresentação: 11/11/2016
Aceitação: 11/11/2016
Sistema de biblioteca: PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO-SISTEMA PERGAMUM
Número de chamada: 530 G719m
Patrocínio: PUC-RIO - PONTIFÍCIA UNIVERSIDADE CATÓLICA DO RIO DE JANEIRO
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